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半導體高低溫沖擊試驗機 用途 也可叫高低溫沖擊試驗箱、溫度沖擊試驗箱,分為三箱式、二箱式。三箱式分別為高溫箱、低溫箱和測試箱,產品在測試時是靜止放置在測試箱

半導體冷熱沖擊試驗機 用途： 用來測試復合材料及材料結構，在瞬間下經(jīng)及高溫及低溫在連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，即以在短時間內試驗其因熱脹冷縮所引起的化學或物理傷害。適用的對象包括金屬、塑料、橡膠、電子等材料，可作為其產品改進的依據(jù)或參考。